Evolutionäre Testfallgenerierung ( Vortrag )

Referent:	Joachim Hänsel , Fraunhofer FIRST
Vortragsreihe:	Test&Qualität
Zeit:	08. Dezember 3: 11:45-12:25
Co-Referenten:	Jaroslav Svacina

Zielgruppe

Entwicklung, Forschung&Lehre, Fortgeschrittene

Themenbereiche

Test & Qualitätssicherung, Aus Forschung & Lehre

Kurzfassung

Die immer komplexeren Systeme, denen Tester heute begegnen, erfordern erwartungsgemäß komplexere Testmodelle für die Generierung einer adäquaten Testsuite. Komplexere Testmodelle resultieren wiederum in einem aufwändigeren oder sogar nicht mehr beherrschbaren Generierungsprozess. Wird das Problem der Generierung von Testfällen umformuliert als ein Optimierungs- bzw. Suchproblem, so eröffnen sich neue Möglichkeiten, diesen komplexen Modellen zu begegnen. Ein Beispiel für solche komplexen Modelle soll in diesem Vortrag zunächst kurz vorgestellt werden. Ein Netzwerk von Timed Automata, welches ein kombiniertes ABS- und ASR-System spezifiziert. Das Testziel ist es alle Transitionen in diesem Automaten abzudecken. Um dieses Ziel zu erreichen, wird ein evolutionärer Algorithmus eingesetzt, der es erst ermöglicht, den großen Suchraum zu bewältigen.

Nutzen und Besonderheiten

Der Vortrag verdeutlicht, wie in vielen Fällen auch dann Tests automatisiert generiert werden konnten, wenn dies sonst sowohl manuell als auch mit herkömmlichen Verfahren aussichtslos erschien. Auch werden besondere Eigenschaften von Generierungsszenarien aufgezeigt, die diese aufweisen müssen, um von dem vorgestellten Verfahren profitieren zu können.

Über den Referenten

Bereits während des Studiums hat Joachim Hänsel Vortragserfahrung als Tutor an der TU-Berlin gesammelt und sich beim Institut Fraunhofer FIRST mit dem Testen eingebetteter Systeme beschäftigt. Seit 2007 ist er dort eingestellt und leitet Projekte mit dem Schwerpunkt auf Testgenerierungsverfahren aus Modellen. Diese Verfahren konnten bereits im industriellen Kontext erfolgreich eingesetzt werden. In seiner Promotion arbeitet er an einem Ansatz der evolutionären Testdatengenerierung.